金融界2025年3月18日消息，国家知识产权局信息显示，中科芯数（深圳）科技有限公司申请一项名为“一种使用支持向量机的半导体材料杂质检测方法”的专利，公开号CN 119622489 A，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种使用支持向量机的半导体材料杂质检测方法，包括以下步骤：S1、从半导体材料的制造过程中获取包含杂质特征数据的初始数据集；S2、对数据集进行归一化和噪声去除的预处理；S3、利用持久同调分析对预处理后的数据进行特征提取，并生成拓扑特征向量；S4、将拓扑特征向量输入到基于霍普菲尔德网络结合支持向量机的分类器中进行分类；S5、采用图神经网络对分类结果进行聚类分析，生成杂质检测报告；S6、基于检测报告，使用元学习技术对支持向量机模型进行优化和更新。通过该方法能够精确识别和分类半导体材料中的不同杂质类型，有效提高了检测的准确性和效率。
天眼查资料显示，中科芯数（深圳）科技有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本3000万人民币，实缴资本10万人民币。通过天眼查大数据分析，中科芯数（深圳）科技有限公司参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息2条，此外企业还拥有行政许可8个。
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